悬臂式探针卡 Cantilevel Probe Card – MEMS探针卡|半导体探针卡|probe card

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微针提供快速准确的悬臂式探针卡设计与制造服务，使用铼钨针，P7针，H3C针等材料提供精准，耐用，测试性能良好的探针卡

应用领域 Application

特点 Features

匹配逐渐缩小，细微化的显示驱动IC测试需求，微针半导体的技术人员拥有20年设计制造经验，利用P7, H3C等材料探针制造Pad Size 13*30um 的探针卡，设计寿命可高达1000万次。

微针为MCU, SOC, ASIC 等Logic 电路提供悬臂式探针卡设计与制造服务，支持数字，模拟，数模混合信号，可设计单Site与Multi Site, 最高支持16 Site，拥有高速，高频设计制造能力。

微针提供种探针组合的晶圆接受测试探针卡，使用铼钨针，P7针，MEMS等探针配合探针卡做DC Parameter测试，有用优秀的漏电测试能力，并且优秀的接触电阻控制能力（30mA条件 < 2Ω）