![](https://www.memsflex.com/wp-content/uploads/2023/12/1701933045-3.jpg)
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![](https://www.memsflex.com/wp-content/uploads/2023/12/1701933129-1.png)
•探针磨损或接触异常,导致采集到的数据有误,错误剔除合格芯片,减少产量。
![](https://www.memsflex.com/wp-content/uploads/2023/12/1701933389-探针卡结构示意图(图源:东吴证券).png)
2.保证测点的洁净,不要有过多的松香、助焊剂之类的残留;
3.探针应用正确的使用行程不要过压;
4.探针应用环境的温度不要超过探针的设定值;
5.探针在测试过程中不要有侧向力参与;
6.探针测试的电流不要超过额定值;
7.探针在设备上维护时,尽量使用专业的工具。
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•探针磨损或接触异常,导致采集到的数据有误,错误剔除合格芯片,减少产量。
2.保证测点的洁净,不要有过多的松香、助焊剂之类的残留;
3.探针应用正确的使用行程不要过压;
4.探针应用环境的温度不要超过探针的设定值;
5.探针在测试过程中不要有侧向力参与;
6.探针测试的电流不要超过额定值;
7.探针在设备上维护时,尽量使用专业的工具。